产品列表

所有产品 (A~Z)

联系我们

 

 销售热线:

 0571-87977725

 0571-87977729

 

 电子邮箱:

 hzckmy@gmail.com

 

 

 

XJP-405

工业金相显微镜

XJP-405 industrial microscope is equipped with a large moving range mechanical stage, Epi-illuminator, long working distance bright and dark field Infinite Plan objectives, wide field eyepiece with clear images and good contrast. It is developed and aimed at the semiconductor industry, wafer manufacturing, electronic in formation industry, metallurgical industry, and used as high grade industrial microscope. Bright & Dark field observation, EPIpolarizing and DIC observation can proceed. It is widely used in Factories, Research institution and college and Universities to identify and analyze Wafer,FPD,Circuit substrate,Precision moulds.

Characteristicsand description

1. Adopt UIS Highresolution, Long working distance, and infinity light path correcting system objective imaging technology

2. Extending the multiplexing technology of objective, compatible infinity objective with all the observation methods. including bright & dark field observation, polarization and also provide with high clear and sharp image in each observation method.

3. Aspherical surface Kohler illumination, increasing the viewing brightness.

4. WF10 X(Φ25)super wide field Eyepiece, long working distance metallurgical objective with bright and dark field

5.The Nosepiece can be equipped with detachable DIC differential interference device.

Specification           
Viewing Head   Compensation Free Trinocular Head, Inclined 30°
50mm-75mm
Eyepiece   WF10×/25mm
  WF10×/20mm,crosshair with reticule 0.1mm
Nosepiece   Quintuple Nosepiece with DIC Jack
Objective   Long working distance bright and dark field Infinite Plan 
objectives:
  5 ×/0.1B.D/W.D.29.4mm 10×/0.25B.D/W.D.16mm 
20×/0.40B.D/W.D.10.6mm 40
  ×/0.60B.D/W.D.5.4mm
Stage   Double layer mechanical stage
  Stage Size: 350mm×310mm
  Moving Range:250mm×250mm
Filter   Flashboard type filters(green,blue,neutral)
Focusing   Coaxial coarse fine focusing adjustment With rack and pinion 
mechanism Fine
  focusing scale value 0.002mm
Light Source   Epi-illumination:With aperture iris diaphragm and field iris 
Diaphragm, Halogen
  Bulb 12V/100W, AC85V-230V, Brightness Adjustable
Polarizing Device   Analyzer rotatable 360,°PolariaerAnalyzer can be moved in/out 
of the optical path
Checking Tool   0.01mm Micrometer
Optional Accessory   Eyepiece: WF15×/17mm、WF20×/12.5mm
  1.3Mega2.0 Mega3.0 Mega5.0 Mega pixels CMOS Digital 
camera eyepiece
  Long working distance bright and dark field Infinite Plan 
objectives: 50
  ×/0.55B.D/W.D.5.1mm 80×/0.75B.D/W.D.4mm
100×/0.80B.D/W.D.3mm
  Two-dimensional measurement software
  Professional metallurgical image analysis software
  DIC(10×、20×、40×、100×)
  Photography attachment and CCD Adapter 0.5×、0.57×、0.75×
  Planish tool
  CCD Camera,colour 1/3″High resolution 520 TV lines